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X熒光光譜儀

瀏覽次數: | 2014-10-22|關鍵詞:熒光,光譜儀,儀器,名稱,全自動,掃描型,射線,| TAG:
   儀器名稱: 全自動掃描型X射線熒光光譜儀
  型    號: ZSX Primus II
  生產廠家: 日本理學公司
  儀器簡介: X射線熒光光譜儀是由主機單元、X射線發生器系統、真空系統、計算機控制等系統組成的正規精密分析儀器,主要用于對各種材料進行快速的定性、定量分析。
  儀器主要特點:
  l 大幅度提高了超輕元素(B,C)的分析靈敏度、準確度
  l 采用新光學系統,實現對重元素的高靈敏度分析
  l 加強了粉末樣品測試功能
  l 加裝CCD視頻攝像機構,位置分辨率可達100um,可以進行0.5mm的微區分析,可以
  測量Mapping(專利技術) 可對微小樣品(φ0.5 mm—小米粒大小)進行定性定量分析
  l 提高微量樣品的分析準確度
  l 樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置
  l 48位自動進樣器
  l 自動監控、自動開關機、自動節能等多功能操作軟件
  l 配備了齊全適用的實時控制分析軟件和可靠實用的數據分析NEW SQX軟件
  主要技術性能:
  l ZSX PrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀,分析精度高、高穩定性
  l 可以對4Be到92U進行快速定性、定量分析
  l 元素的檢量范圍從0.0001% ~100%,如進行前處理,可以再下降2 ~3個數量級
  l 分析方式靈活、多樣,快捷有效
  ? 配備多種適應不同分析要求的分析軟件
  儀器主要功能及其用途:
  l 鋼鐵、有色冶金、礦石、土壤、水泥、陶瓷、玻璃、晶體、化學試劑、化工產品等材質中的各種成分的快速定性和定量分析、元素分布、面掃描等分析
  l 糧食、飼料、塑料、藥材、血液、毛發、油脂、植物根莖葉花等有機物質中微量元素的快速定性和定量分析
  l 可以分析材料的狀態包括:固體樣品、粉末樣品、半導體薄膜樣品(單層薄膜、多層薄膜、復合薄膜)、液體樣品、不規則小面積樣品、微量粉末樣品等
  l 可以分析材料的領域包括:電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、食品工業非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護
  l 用于原子的基本性質如氧化數、離子電荷、電負性和化學鍵等的研究

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